仪器简介：

型号：FEI Talos F200S

TEM常用于观察样品内部组织形貌，特别适用于对纳米级样品的观测。同时，具有结构相的样品，能在高倍数下观测到晶格条纹。

结合SAED，由选区形貌观察与电子衍射结构分析的微区对应性，实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。
STEM是一种综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式，利用STEM可以观察较厚的试样和低衬度的试样实现微区衍射，还能进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。

EDS支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布，常与STEM结合，得到样品各点的形貌和成分信息。

仪器参数：

STEM HAADF分辨率（nm） 0.16

TEM信息分辨率（nm） 0.12

TEM点分辨率（nm） 0.25

STEM放大范围 150x-230Mx

TEM放大范围 25x-1.50Mx

相机长度(nm) 12-5700

最大衍射角 24°

最大倾转角β ±30°

最大倾转角α ±30°

样品要求：

非生物样品，非磁性样品，无挥发性样品。

联系人：

杨宜坪  18113650995