目标定位：

矿物学制样平台拥有超薄切片机、离子减薄仪、多功能修块机和等离子清洗仪等设备，可开展矿物学微区研究的样品前处理、制备及清洗等工作。

主要设备及功能

超薄切片机（Leica EM UC7），主要制备厚度极薄（< 100 nm）的透射电子显微镜（TEM）样品；

离子减薄仪（695 PIPS IITM），可针对矿物、岩石、陶瓷、半导体、金属、合金等多种样品，制备TEM样品；

多功能修块机（Leica EM TXP），可对样品进行精确的锯、铣、磨、抛光等工作，完成SEM、TEM等样品的制备；

等离子清洗仪（Model 1020），主要用于TEM样品表面吸附碳等污染物的清洗工作。